SN74ABT18245ADGGR Texas Instruments
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| Anzahl | Preis |
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| 44+ | 12.26 EUR |
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Technische Details SN74ABT18245ADGGR Texas Instruments
Scan Test Device -40C to 85C 56-Pin TSSOP T/R.
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| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis |
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| SN74ABT18245ADGGR |
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SN74ABT18245ADGGR | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40C to 85C 56-Pin TSSOP T/R |
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SN74ABT18245ADGGR | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP |
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SN74ABT18245ADGGR | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP |
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SN74ABT18245ADGGR | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
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