SN74ABT18245ADLR Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Packaging: Bulk
Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 56-SSOP
auf Bestellung 5000 Stücke:
Lieferzeit 10-14 Tag (e)
| Anzahl | Preis |
|---|---|
| 41+ | 12.45 EUR |
Produktrezensionen
Produktbewertung abgeben
Technische Details SN74ABT18245ADLR Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 56-SSOP.
Weitere Produktangebote SN74ABT18245ADLR nach Preis ab 15.65 EUR bis 20.13 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74ABT18245ADLR | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
auf Bestellung 141 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
|
||||||||||
| SN74ABT18245ADLR |
|
auf Bestellung 987 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
|||||||||||||
 |
SN74ABT18245ADLR | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device |
Produkt ist nicht verfügbar |
|||||||||||
| SN74ABT18245ADLR | Hersteller : TEXAS INSTRUMENTS |
SN74ABT18245ADLR Other logic integrated circuits |
Produkt ist nicht verfügbar |
||||||||||||
|
|
SN74ABT18245ADLR | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 56-SSOP |
Produkt ist nicht verfügbar |
|||||||||||
|
|
SN74ABT18245ADLR | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 56-SSOP |
Produkt ist nicht verfügbar |