SN74ABT18245ADLR Texas Instruments
Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Packaging: Bulk
Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 56-SSOP
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Technische Details SN74ABT18245ADLR Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 56-SSOP.
Weitere Produktangebote SN74ABT18245ADLR nach Preis ab 18.62 EUR bis 23.95 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Privatkunde | ||||||||
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SN74ABT18245ADLR | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
auf Bestellung 141 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
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| SN74ABT18245ADLR |
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auf Bestellung 987 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
Im Einkaufswagen Stück im Wert von UAH |
| SN74ABT18245ADLR |
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Hersteller: Texas Instruments
Specialty Function Logic Scan Test Device
Specialty Function Logic Scan Test Device
auf Bestellung 141 Stücke:
Lieferzeit 10-14 Tag (e)
| Anzahl | Privatkunde |
|---|---|
| 1+ | 23.95 EUR |
| 10+ | 22.04 EUR |
| 25+ | 21.13 EUR |
| 100+ | 18.62 EUR |
| SN74ABT18245ADLR |
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auf Bestellung 987 Stücke:
Lieferzeit 21-28 Tag (e)