SN74ABT18502PM Texas Instruments
Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
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Technische Details SN74ABT18502PM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
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| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Preis |
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| SN74ABT18502PM |
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Im Einkaufswagen Stück im Wert von UAH |
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