SN74ABT18502PM Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
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| Anzahl | Preis |
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| 16+ | 30.55 EUR |
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Technische Details SN74ABT18502PM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Weitere Produktangebote SN74ABT18502PM
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis |
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| SN74ABT18502PM |
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SN74ABT18502PM | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device |
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| SN74ABT18502PM | Hersteller : TEXAS INSTRUMENTS |
SN74ABT18502PM Other logic integrated circuits |
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SN74ABT18502PM | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
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SN74ABT18502PM | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic W/18-Bit Univ Bus Trncvr |
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