SN74ABT8245DWR Texas Instruments
Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Number of Bits: 8
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Bulk
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Technische Details SN74ABT8245DWR Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC, Supplier Device Package: 24-SOIC, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers, Number of Bits: 8, Mounting Type: Surface Mount, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Packaging: Tape & Reel (TR).
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| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Preis |
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| SN74ABT8245DWR |
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auf Bestellung 928 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
Im Einkaufswagen Stück im Wert von UAH |
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