SN74ABT8245DWR Texas Instruments
Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
| Anzahl | Privatkunde |
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Technische Details SN74ABT8245DWR Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.
Weitere Produktangebote SN74ABT8245DWR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Privatkunde |
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SN74ABT8245DWR | Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
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SN74ABT8245DWR | Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
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Mindestbestellmenge: 2000 Stücke Im Einkaufswagen Stück im Wert von UAH |
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SN74ABT8245DWR | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
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| SN74ABT8245DWR | TEXAS INSTRUMENTS |
Category: Buffers, transceivers, drivers Description: IC: digital; transceiver; SOIC24; -40÷85°C; reel,tape Type of integrated circuit: digital Operating temperature: -40...85°C Kind of package: reel; tape Case: SOIC24 Kind of integrated circuit: transceiver |
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| SN74ABT8245DWR |
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Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Packaging: Cut Tape (CT)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Packaging: Cut Tape (CT)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
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| SN74ABT8245DWR |
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Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
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| SN74ABT8245DWR |
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Hersteller: Texas Instruments
Specialty Function Logic Scan Test Device
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| SN74ABT8245DWR |
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Hersteller: TEXAS INSTRUMENTS
Category: Buffers, transceivers, drivers
Description: IC: digital; transceiver; SOIC24; -40÷85°C; reel,tape
Type of integrated circuit: digital
Operating temperature: -40...85°C
Kind of package: reel; tape
Case: SOIC24
Kind of integrated circuit: transceiver
Category: Buffers, transceivers, drivers
Description: IC: digital; transceiver; SOIC24; -40÷85°C; reel,tape
Type of integrated circuit: digital
Operating temperature: -40...85°C
Kind of package: reel; tape
Case: SOIC24
Kind of integrated circuit: transceiver
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