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SN74ABT8543DLR

SN74ABT8543DLR Texas Instruments

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Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
Packaging: Bulk
Package / Case: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-BSSOP
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Technische Details SN74ABT8543DLR Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 28-BSSOP.

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Foto Bezeichnung Hersteller Beschreibung Verfügbarkeit Privatkunde
SN74ABT8543DLR SN74ABT8543DLR Texas Instruments suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8543 Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-BSSOP
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Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
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Supplier Device Package: 28-BSSOP
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