SN74ABTH18652APM Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
auf Bestellung 6257 Stücke:
Lieferzeit 10-14 Tag (e)
| Anzahl | Preis |
|---|---|
| 25+ | 19.35 EUR |
Produktrezensionen
Produktbewertung abgeben
Technische Details SN74ABTH18652APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Weitere Produktangebote SN74ABTH18652APM
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74ABTH18652APM | Hersteller : TEXAS INSTRUMENTS |
SN74ABTH18652APM Other logic integrated circuits |
Produkt ist nicht verfügbar |
||
|
|
SN74ABTH18652APM | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
Produkt ist nicht verfügbar |
|
 |
SN74ABTH18652APM | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/18-Bit Trnscvr & Register |
Produkt ist nicht verfügbar |