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SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR Texas Instruments

sn54bct8244a.pdf
Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
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Technische Details SN74BCT8244ADWR Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Buffers, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.

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Foto Bezeichnung Hersteller Beschreibung Verfügbarkeit Privatkunde
SN74BCT8244ADWR Texas Instruments sn54bct8244a.pdf IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Мікросхеми стандартної логіки
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SN74BCT8244ADWR SN74BCT8244ADWR Texas Instruments sn54bct8244a.pdf Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
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 Mindestbestellmenge: 2000 Stücke
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Hersteller: Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Мікросхеми стандартної логіки
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Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
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