Produkte > TEXAS INSTRUMENTS > SN74BCT8373ADWE4 SN74BCT8373ADWE4 Texas Instruments Hersteller: Texas Instruments Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC auf Bestellung 775 Stücke:Lieferzeit 10-14 Tag (e) kaufen Im Einkaufswagen Stück im Wert von UAH Produktrezensionen Produktbewertung abgeben Technische Details SN74BCT8373ADWE4 Texas Instruments Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC.