Produkte > TEXAS INSTRUMENTS > SN74BCT8373ANTE4 SN74BCT8373ANTE4 Texas Instruments Hersteller: Texas Instruments Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP auf Bestellung 780 Stücke:Lieferzeit 10-14 Tag (e) kaufen Im Einkaufswagen Stück im Wert von UAH Produktrezensionen Produktbewertung abgeben Technische Details SN74BCT8373ANTE4 Texas Instruments Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP.