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SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT Texas Instruments

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Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
Packaging: Tube
Package / Case: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Mounting Type: Through Hole
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-PDIP
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Technische Details SN74BCT8374ANT Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP, Packaging: Tube, Package / Case: 24-DIP (0.300", 7.62mm), Mounting Type: Through Hole, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-PDIP.

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Foto Bezeichnung Hersteller Beschreibung Verfügbarkeit Privatkunde
SN74BCT8374ANT SN74BCT8374ANT Texas Instruments suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74bct8374a Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
Supplier Device Package: 24-PDIP
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Number of Bits: 8
Mounting Type: Through Hole
Package / Case: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Packaging: Tube
Produkt ist nicht verfügbar
 Mindestbestellmenge: 60 Stücke
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SN74BCT8374ANT
Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
Supplier Device Package: 24-PDIP
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Number of Bits: 8
Mounting Type: Through Hole
Package / Case: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
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