SN74LVTH182502APM Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
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| Anzahl | Preis |
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Technische Details SN74LVTH182502APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Weitere Produktangebote SN74LVTH182502APM nach Preis ab 11.33 EUR bis 17.83 EUR
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SN74LVTH182502APM | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic 10-Bit Buffer/Driver With 3-State Output |
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SN74LVTH182502APM | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device |
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SN74LVTH182502APM | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
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