SN74LVTH182504APM Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 20
Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
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Technische Details SN74LVTH182504APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 20, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Weitere Produktangebote SN74LVTH182504APM
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
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Preis |
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SN74LVTH182504APM | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40C to 85C 64-Pin LQFP Tray |
Produkt ist nicht verfügbar |
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SN74LVTH182504APM | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 20 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
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SN74LVTH182504APM | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Octal Bus Interface F-F W/3-State Otpt |
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