
SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
auf Bestellung 1840 Stücke:
Lieferzeit 10-14 Tag (e)
Anzahl | Preis |
---|---|
1+ | 12.28 EUR |
10+ | 10.28 EUR |
25+ | 9.63 EUR |
100+ | 8.78 EUR |
250+ | 8.47 EUR |
500+ | 8.04 EUR |
1000+ | 7.88 EUR |
Produktrezensionen
Produktbewertung abgeben
Technische Details SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-TSSOP.
Weitere Produktangebote SN74LVTH182512DGGR nach Preis ab 8.29 EUR bis 13.90 EUR
Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis | ||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
SN74LVTH182512DGGR | Hersteller : Texas Instruments |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-TSSOP |
auf Bestellung 1536 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
|
||||||||||||||||
SN74LVTH182512DGGR |
![]() |
auf Bestellung 1997 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
|||||||||||||||||||
![]() |
SN74LVTH182512DGGR | Hersteller : Texas Instruments |
![]() |
Produkt ist nicht verfügbar |
|||||||||||||||||
![]() |
SN74LVTH182512DGGR | Hersteller : Texas Instruments |
![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-TSSOP |
Produkt ist nicht verfügbar |