SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
Hersteller: Texas Instruments
Description: IC ABT SCN TST DEV 18BIT 64TSSOP
Packaging: Cut Tape (CT)
Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-TSSOP
| Anzahl | Privatkunde |
|---|---|
| 2+ | 17.03 EUR |
| 10+ | 13.26 EUR |
| 25+ | 12.32 EUR |
| 100+ | 11.41 EUR |
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Technische Details SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
Description: IC ABT SCN TST DEV 18BIT 64TSSOP, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-TSSOP.
Weitere Produktangebote SN74LVTH182512DGGR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Privatkunde |
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SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments |
Description: IC ABT SCN TST DEV 18BIT 64TSSOP Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-TSSOP |
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Mindestbestellmenge: 2000 Stücke Im Einkaufswagen Stück im Wert von UAH |
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SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments |
Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit U niv Bus Transceiver |
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SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments |
Scan Test Device |
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| SN74LVTH182512DGGR |
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Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
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Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-TSSOP
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Packaging: Tape & Reel (TR)
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Number of Bits: 18
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| SN74LVTH182512DGGR |
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Hersteller: Texas Instruments
Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit U niv Bus Transceiver
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Scan Test Device
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