SN74LVTH182646APM Texas Instruments
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| Anzahl | Preis |
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| 160+ | 17.38 EUR |
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Technische Details SN74LVTH182646APM Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray.
Weitere Produktangebote SN74LVTH182646APM nach Preis ab 17.38 EUR bis 22.44 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis | ||||||||
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SN74LVTH182646APM | Hersteller : Texas Instruments |
 Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
auf Bestellung 160 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74LVTH182646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
auf Bestellung 3040 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74LVTH182646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
auf Bestellung 12206 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
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SN74LVTH182646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device |
auf Bestellung 2080 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74LVTH182646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
Produkt ist nicht verfügbar |
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SN74LVTH182646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
Produkt ist nicht verfügbar |
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SN74LVTH182646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
Produkt ist nicht verfügbar |
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SN74LVTH182646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic 18bit ABT 3.3V |
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