8V182512IDGGREP Texas Instruments
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Technische Details 8V182512IDGGREP Texas Instruments
Specialty Function Logic Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device.
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Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis ohne MwSt |
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8V182512IDGGREP | Hersteller : Texas Instruments | Description: IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
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8V182512IDGGREP | Hersteller : Texas Instruments | Specialty Function Logic Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device |
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