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SFSD512GN1AM1TB-E-XG-221-STD Swissbit



Hersteller: Swissbit
Memory Cards Industrial microSD Card, S-50u, 512 GB, 3D TLC Flash, -25C to +85C
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Technische Details SFSD512GN1AM1TB-E-XG-221-STD Swissbit

Description: SWISSBIT - SFSD512GN1AM1TB-E-XG-221-STD - Flash-Speicherkarte, 3D-TLC, MicroSDXC-Karte, UHS-1, Klasse 10/U3/V30/A2, 512 GB, tariffCode: 85238090, Flash-Speicherkarte: MicroSDXC-Karte, UHS-1, Klasse 10/U3/V30/A2, productTraceability: No, SVHC: No SVHC (25-Jun-2025), rohsCompliant: Y-EX, Speicherkapazität: 512GB, Versorgungsspannung, nom.: -, euEccn: NLR, isCanonical: Y, hazardous: false, rohsPhthalatesCompliant: YES, Betriebstemperatur, min.: -25°C, usEccn: EAR99, Betriebstemperatur, max.: 85°C, Produktpalette: S-50u High Reliability Series.

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Foto Bezeichnung Hersteller Beschreibung Verfügbarkeit Preis
SFSD512GN1AM1TB-E-XG-221-STD SFSD512GN1AM1TB-E-XG-221-STD SWISSBIT S-50u_fact_sheet.pdf Description: SWISSBIT - SFSD512GN1AM1TB-E-XG-221-STD - Flash-Speicherkarte, 3D-TLC, MicroSDXC-Karte, UHS-1, Klasse 10/U3/V30/A2, 512 GB
tariffCode: 85238090
Flash-Speicherkarte: MicroSDXC-Karte, UHS-1, Klasse 10/U3/V30/A2
productTraceability: No
SVHC: No SVHC (25-Jun-2025)
rohsCompliant: Y-EX
Speicherkapazität: 512GB
Versorgungsspannung, nom.: -
euEccn: NLR
isCanonical: Y
hazardous: false
rohsPhthalatesCompliant: YES
Betriebstemperatur, min.: -25°C
usEccn: EAR99
Betriebstemperatur, max.: 85°C
Produktpalette: S-50u High Reliability Series
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SFSD512GN1AM1TB-E-XG-221-STD S-50u_fact_sheet.pdf
Hersteller: SWISSBIT
Description: SWISSBIT - SFSD512GN1AM1TB-E-XG-221-STD - Flash-Speicherkarte, 3D-TLC, MicroSDXC-Karte, UHS-1, Klasse 10/U3/V30/A2, 512 GB
tariffCode: 85238090
Flash-Speicherkarte: MicroSDXC-Karte, UHS-1, Klasse 10/U3/V30/A2
productTraceability: No
SVHC: No SVHC (25-Jun-2025)
rohsCompliant: Y-EX
Speicherkapazität: 512GB
Versorgungsspannung, nom.: -
euEccn: NLR
isCanonical: Y
hazardous: false
rohsPhthalatesCompliant: YES
Betriebstemperatur, min.: -25°C
usEccn: EAR99
Betriebstemperatur, max.: 85°C
Produktpalette: S-50u High Reliability Series
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