SN74ABT18245ADL Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Packaging: Bulk
Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 56-SSOP
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| Anzahl | Preis |
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| 35+ | 14.13 EUR |
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Technische Details SN74ABT18245ADL Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP, Packaging: Bulk, Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 56-SSOP.
Weitere Produktangebote SN74ABT18245ADL nach Preis ab 12.94 EUR bis 23.74 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis | ||||||
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SN74ABT18245ADL | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
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SN74ABT18245ADL | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP Packaging: Tube Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 56-SSOP |
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SN74ABT18245ADL | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40C to 85C 56-Pin SSOP Tube |
auf Bestellung 40 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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| SN74ABT18245ADL |
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auf Bestellung 1040 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
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| SN74ABT18245ADL | Hersteller : TEXAS INSTRUMENTS |
SN74ABT18245ADL Other logic integrated circuits |
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