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SN74ABT18640DL

SN74ABT18640DL Texas Instruments


scbs267c.pdf Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Packaging: Bulk
Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 56-SSOP
Part Status: Active
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Technische Details SN74ABT18640DL Texas Instruments

Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP, Packaging: Bulk, Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 56-SSOP, Part Status: Active.

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SN74ABT18640DL SN74ABT18640DL Hersteller : Texas Instruments scbs267c.pdf Specialty Function Logic Device w/18-Bit Inv Bus Transceiver
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SN74ABT18640DL SN74ABT18640DL Hersteller : Texas Instruments getliterature.pdf Scan Test Device
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SN74ABT18640DL Hersteller : TEXAS INSTRUMENTS scbs267c.pdf SN74ABT18640DL Other logic integrated circuits
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SN74ABT18640DL SN74ABT18640DL Hersteller : Texas Instruments scbs267c.pdf Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Packaging: Tube
Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 56-SSOP
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