SN74ABT18646PM Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
Part Status: Active
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| Anzahl | Preis |
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| 21+ | 24.16 EUR |
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Technische Details SN74ABT18646PM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10), Part Status: Active.
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| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis |
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SN74ABT18646PM | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device |
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| SN74ABT18646PM | Hersteller : TEXAS INSTRUMENTS |
SN74ABT18646PM Other logic integrated circuits |
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SN74ABT18646PM | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) Part Status: Active |
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SN74ABT18646PM | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/18-Bit Bus Trnscvr & Register |
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