Technische Details SN74ABT8245DW Texas Instruments
Стандартна логіка, Uживл, В = 4,5...5,5, К-сть. л.е./тип л. е. = 1 8-бітне скануючий тестувальний пристрій з трансіверами шини, Тексп, °С = -40...+85,... Група товару: Інтегральні мікросхеми Корпус: SOICW-24 Од. вим: шт, Anzahl je Verpackung: 25 Stücke.
Weitere Produktangebote SN74ABT8245DW nach Preis ab 5.57 EUR bis 13.25 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis | ||||||||||||||||
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SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
 Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
auf Bestellung 37 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
auf Bestellung 150 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
auf Bestellung 650 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
auf Bestellung 75 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
auf Bestellung 75 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC Packaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supplier Device Package: 24-SOIC |
auf Bestellung 40 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
Produkt ist nicht verfügbar |
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SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
Produkt ist nicht verfügbar |
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| SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
SO-24 Група товару: Мікросхеми стандартної логіки Од. вим: шт |
Produkt ist nicht verfügbar |
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| SN74ABT8245DW | Hersteller : Texas Instruments |
Стандартна логіка, Uживл, В = 4,5...5,5, К-сть. л.е./тип л. е. = 1 8-бітне скануючий тестувальний пристрій з трансіверами шини, Тексп, °С = -40...+85,... Група товару: Інтегральні мікросхеми Корпус: SOICW-24 Од. вим: шт Anzahl je Verpackung: 25 Stücke |
Produkt ist nicht verfügbar |