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SN74ABT8245DW

SN74ABT8245DW Texas Instruments

suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 Hersteller: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
auf Bestellung 37 Stücke:
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Technische Details SN74ABT8245DW Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC, Packaging: Tube, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supplier Device Package: 24-SOIC.

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Foto Bezeichnung Hersteller Beschreibung Verfügbarkeit
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auf Bestellung 650 Stücke:
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25+6.32 EUR
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Mindestbestellmenge: 25
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auf Bestellung 75 Stücke:
Lieferzeit 10-14 Tag (e)
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1+11.56 EUR
10+9.24 EUR
25+8.61 EUR
100+7.76 EUR
250+7.46 EUR
500+7.36 EUR
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Packaging: Tube
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supplier Device Package: 24-SOIC
auf Bestellung 40 Stücke:
Lieferzeit 10-14 Tag (e)
Anzahl Preis
2+13.25 EUR
10+10.26 EUR
25+9.51 EUR
Mindestbestellmenge: 2
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