Technische Details SN74ABT8245DW Texas Instruments
Category: Other logic integrated circuits, Description: IC: digital; bus transceiver; Ch: 8; BiCMOS,TTL; 4.5÷5.5VDC; SMD, Mounting: SMD, Supply voltage: 4.5...5.5V DC, Type of integrated circuit: digital, Kind of output: 3-state, Operating temperature: -40...85°C, Technology: BiCMOS; TTL, Quiescent current: 38mA, Kind of package: tube, Case: SO24, Family: ABT, Kind of integrated circuit: bus transceiver, Number of channels: 8.
Weitere Produktangebote SN74ABT8245DW nach Preis ab 6.78 EUR bis 15.77 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Privatkunde | ||||||||||||||
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SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
 Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
auf Bestellung 37 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
auf Bestellung 150 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
auf Bestellung 650 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
auf Bestellung 75 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
auf Bestellung 75 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
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SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC Supplier Device Package: 24-SOIC Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Mounting Type: Surface Mount Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Packaging: Tube |
auf Bestellung 40 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
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| SN74ABT8245DW |
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Hersteller: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
auf Bestellung 37 Stücke:
Lieferzeit 14-21 Tag (e)
| Anzahl | Privatkunde |
|---|---|
| 24+ | 7.27 EUR |
| SN74ABT8245DW |
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Hersteller: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
auf Bestellung 150 Stücke:
Lieferzeit 14-21 Tag (e)
| Anzahl | Privatkunde |
|---|---|
| 150+ | 7.46 EUR |
| SN74ABT8245DW |
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Hersteller: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
auf Bestellung 650 Stücke:
Lieferzeit 14-21 Tag (e)
| Anzahl | Privatkunde |
|---|---|
| 25+ | 7.6 EUR |
| 100+ | 6.78 EUR |
| SN74ABT8245DW |
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Hersteller: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
auf Bestellung 75 Stücke:
Lieferzeit 14-21 Tag (e)
| Anzahl | Privatkunde |
|---|---|
| 75+ | 11.66 EUR |
| SN74ABT8245DW |
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Hersteller: Texas Instruments
Specialty Function Logic Scan Test Device
Specialty Function Logic Scan Test Device
auf Bestellung 75 Stücke:
Lieferzeit 10-14 Tag (e)
| Anzahl | Privatkunde |
|---|---|
| 1+ | 13.76 EUR |
| 10+ | 11 EUR |
| 25+ | 10.25 EUR |
| 100+ | 9.23 EUR |
| 250+ | 8.88 EUR |
| 500+ | 8.76 EUR |
| 1000+ | 8.65 EUR |
| SN74ABT8245DW |
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Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
auf Bestellung 40 Stücke:
Lieferzeit 10-14 Tag (e)
| Anzahl | Privatkunde |
|---|---|
| 2+ | 15.77 EUR |
| 10+ | 12.21 EUR |
| 25+ | 11.32 EUR |