SN74ABT8245DW Texas Instruments
| Anzahl | Preis |
|---|---|
| 1+ | 11.56 EUR |
| 10+ | 9.24 EUR |
| 25+ | 8.61 EUR |
| 100+ | 7.76 EUR |
| 250+ | 7.46 EUR |
| 500+ | 7.36 EUR |
| 1000+ | 7.27 EUR |
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Technische Details SN74ABT8245DW Texas Instruments
Стандартна логіка, Uживл, В = 4,5...5,5, К-сть. л.е./тип л. е. = 1 8-бітне скануючий тестувальний пристрій з трансіверами шини, Тексп, °С = -40...+85,... Інтегральні мікросхеми Корпус: SOICW-24 Од. вим: шт, Anzahl je Verpackung: 25 Stücke.
Weitere Produktangebote SN74ABT8245DW nach Preis ab 9.51 EUR bis 13.25 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Preis |
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SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
 Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOICSupplier Device Package: 24-SOIC Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Mounting Type: Surface Mount Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Packaging: Tube |
auf Bestellung 40 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
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| SN74ABT8245DW |
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Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
auf Bestellung 40 Stücke:
Lieferzeit 10-14 Tag (e)
| Anzahl | Preis |
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| 2+ | 13.25 EUR |
| 10+ | 10.26 EUR |
| 25+ | 9.51 EUR |