SN74ABT8646DW Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-SOIC
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| Anzahl | Preis |
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| 42+ | 11.69 EUR |
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Technische Details SN74ABT8646DW Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC, Packaging: Bulk, Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 28-SOIC.
Weitere Produktangebote SN74ABT8646DW nach Preis ab 14.27 EUR bis 20.64 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis | ||||||||||||||
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SN74ABT8646DW | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Bus Trnscvr & Register |
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| SN74ABT8646DW |
07+ |
auf Bestellung 1490 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
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SN74ABT8646DW | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC Packaging: Tube Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 28-SOIC |
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