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SN74ABTH182646APM Texas Instruments


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Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
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Technische Details SN74ABTH182646APM Texas Instruments

Category: Other logic integrated circuits, Description: IC: digital; register,transceiver; Ch: 2; BiCMOS,TTL; 4.5÷5.5VDC, Type of integrated circuit: digital, Kind of integrated circuit: register; transceiver, Case: LQFP64, Mounting: SMD, Operating temperature: -40...85°C, Supply voltage: 4.5...5.5V DC, Number of channels: 2, Technology: BiCMOS; TTL, Family: ABT, Quiescent current: 24mA, Kind of package: tube.

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Foto Bezeichnung Hersteller Beschreibung Verfügbarkeit Privatkunde
SN74ABTH182646APM SN74ABTH182646APM Texas Instruments scbs166d.pdf Description: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
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SN74ABTH182646APM SN74ABTH182646APM Texas Instruments scbs166d.pdf Specialty Function Logic Device w/18-Bit Trns cvr & Register
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SN74ABTH182646APM SN74ABTH182646APM TEXAS INSTRUMENTS scbs166d.pdf Category: Other logic integrated circuits
Description: IC: digital; register,transceiver; Ch: 2; BiCMOS,TTL; 4.5÷5.5VDC
Type of integrated circuit: digital
Kind of integrated circuit: register; transceiver
Case: LQFP64
Mounting: SMD
Operating temperature: -40...85°C
Supply voltage: 4.5...5.5V DC
Number of channels: 2
Technology: BiCMOS; TTL
Family: ABT
Quiescent current: 24mA
Kind of package: tube
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Type of integrated circuit: digital
Kind of integrated circuit: register; transceiver
Case: LQFP64
Mounting: SMD
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Technology: BiCMOS; TTL
Family: ABT
Quiescent current: 24mA
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Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
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