SN74BCT8373ADWR Texas Instruments
Hersteller: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Latches
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
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Technische Details SN74BCT8373ADWR Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with D-Type Latches, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.
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| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Preis |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74BCT8373ADWR | TEXAS INST |
N/A |
auf Bestellung 3127 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
Im Einkaufswagen Stück im Wert von UAH |
| SN74BCT8373ADWR |
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