SN74LVTH18646APM Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
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| Anzahl | Preis |
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| 25+ | 20.54 EUR |
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Technische Details SN74LVTH18646APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Weitere Produktangebote SN74LVTH18646APM nach Preis ab 18.92 EUR bis 30.41 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis | ||||||||||||||||
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SN74LVTH18646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit Trnscvr & Register |
auf Bestellung 32 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
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SN74LVTH18646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
auf Bestellung 305 Stücke: Lieferzeit 10-14 Tag (e) |
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SN74LVTH18646APM | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40C to 85C 64-Pin LQFP Tray |
auf Bestellung 1280 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |